EVAL-2ED21814 650 V / 2.5 A ブートストラップダイオード内蔵ハーフブリッジゲートドライバー2ED21814S06F用評価ボード
概要
EVAL-2ED21814には、ハーフブリッジ構成のゲートドライバーIC 2ED21814S06Fと2つのMOSFET IPP60R280P7が搭載されています。インフィニオン シリコン オン インシュレータ (SOI) ゲート ドライバーの基本機能を評価し、その特長を明らかにできるよう設計されています。ユーザーは、PWM入出力性能のテスト、伝搬遅延の確認、電流耐量、高スイッチング周波数性能を試験できます。本ボードはダブルパルステストにも使用できます。
特長
- 最大で+650Vの動作電圧 (VSノード)
- インフィニオンのSOIテクノロジーを使用
- 負のVS過渡耐性100V
- 低抵抗ブートストラップダイオード内蔵
- ブートストラップ動作用に設計
- 最大電源電圧25V
- 低電圧ロックアウト (UVLO)
- 200nsの伝播遅延
- VSピンにおいて-11Vまでロジック回路動作可能
- 入力において-5Vの負電圧を許容
利点
- 部品コスト低減、PCB小型化
- レベルシフト損失を50%低減
- 優れた堅牢性とノイズ耐性
- 高電流パワーデバイスに最適
- 高周波アプリケーション向け
図
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